GB/T 18859-2016 封閉式低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 在內(nèi)部故障引起電弧情況下的試驗(yàn)導(dǎo)則 Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies--Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
- 標(biāo)準(zhǔn)大小:
- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 18859-2016
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時(shí)間:2023-05-08
- 下載次數(shù):次
本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)成套設(shè)備由于內(nèi)部故障在空氣中引起電弧情況下的試驗(yàn)方法給予指導(dǎo)。 這一試驗(yàn)的目的是評(píng)估成套設(shè)備限制由內(nèi)部電弧故障引起人身傷害、成套設(shè)備損壞風(fēng)險(xiǎn)和繼續(xù)使用適用性的能力。 本標(biāo)準(zhǔn)提供的試驗(yàn)程序僅適用于: --符合GB 7251.12(成套電力開關(guān)和控制設(shè)備PSC成套設(shè)備)的封閉式、落地式或壁掛式低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備。 注:本標(biāo)準(zhǔn)可作為其他產(chǎn)品電弧故障試驗(yàn)的參考文件,但是考慮到其他成套設(shè)備或產(chǎn)品的特性,應(yīng)調(diào)整試驗(yàn)程序和驗(yàn)收準(zhǔn)則。 --成套設(shè)備的門和蓋板關(guān)閉并正確固定的情況。 當(dāng)用戶和制造商就不同的或更惡劣情況下的試驗(yàn)達(dá)成協(xié)議時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)可作為指導(dǎo)文件。 本標(biāo)準(zhǔn)給出的試驗(yàn)程序應(yīng)考慮: --作用在蓋板、門等上面的內(nèi)部過壓力的影響; --電弧或弧根作用到外殼上的熱效應(yīng)及噴射出的熱氣體和發(fā)光粒子的熱效應(yīng)。 本標(biāo)準(zhǔn)給出的試驗(yàn)程序不包含: --能構(gòu)成危險(xiǎn)的其他效應(yīng),如有毒氣體和噪聲; --維護(hù)工作期間、開門或相似的情況; --接近成套設(shè)備頂部和底部。 該試驗(yàn)是制造商自愿進(jìn)行的試驗(yàn)。 GB/T 18859-2016/IEC/TR 61641:2014 代替GB/Z 18859-2002 封閉式低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 在內(nèi)部故障引起電弧情況下的 試 驗(yàn) 導(dǎo) 則 Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies- Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault (IEC/TR 61641:2014,IDT) 2016-12-13發(fā) 布 2017-07-01實(shí) 施 中 華 人 民 共 和 國 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗(yàn) 檢 疫 總 局 去 女 蠢 中 「 「 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì) ‘ GB/T 18859-2016/IEC/TR 61641:2014 刖 言 本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T
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