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SC/T 7002.5-2016 漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法恒定濕熱（Ca） Fishery electronic equipment environmental test and methods- Damp heat, steady state(Ca)

標(biāo)準(zhǔn)類別：[SC] 水產(chǎn)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
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標(biāo)準(zhǔn)編號：SC/T 7002.5-2016
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
更新時間：2023-09-27
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標(biāo)準(zhǔn)簡介

本部分規(guī)定了漁船用電子設(shè)備恒定濕熱（Ca）試驗的試驗箱及樣品安裝要求、試驗條件、試驗方法以及相關(guān)規(guī)范應(yīng)包括的內(nèi)容。
本部分適用于漁船用電子設(shè)備在恒定濕熱環(huán)境條件下的試驗。C/T 7002.5-2016 代替SC/T 7002.5-1992 漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法　　　　恒定濕熱（ Ca) Fishery electronic equipment environmental test and methods- 　　　　　　　　 Damp heat, steady state(Ca) 2016-12-23發(fā) 布 2017-04-01實施八一中華人民共和國農(nóng)業(yè)部發(fā)布、＼ SC/ T 7002.5-2016 刖舀　　SC/ T 7002《漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法》分為14部分：　　— —SC/ T 7002. 1漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法總則；　　— —SC/ T 7002.2漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法高溫；　　— —SC/ T 7002.3漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件和方法低溫；　　— —SC/ T 7002. 4漁船用電子設(shè)備環(huán)境試驗條件

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上一條：IEC 62047-16-2015 半導(dǎo)體器件--微型機電設(shè)備--第16部分:測定MEMS膜殘留應(yīng)力的試驗方法--晶片彎曲法和懸臂梁偏位法 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 16: Test methods for determining residual stresses of MEMS films - Wafer curvature and cantilever beam deflection methods

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Environmental 電子設(shè)備試驗條件

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