本文件描述了微波電路中檢波器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“檢波器”）的電參數(shù)測(cè)試方法。 本文件適用于單管、單片及混合集成等微波電路中檢波器的電參數(shù)測(cè)試，包括檢波二極管、均方根檢波器、對(duì)數(shù)放大檢波器、包絡(luò)/峰值檢波器等。 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 42972-2023 標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：微波電路檢波器測(cè)試方法 英文名稱(chēng)：Microwave circuits—Test methods for detector 發(fā)布日期：2023-09-07 實(shí)施日期：2024-01-01 引用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17573-1998 起草人：遲雷、彭浩、高金環(huán)、黃杰、高蕾、趙濤、王磊、陳季翔、王鉀、魏兵、趙鵬、徐昕、何黎、米村艷 起草單位：中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所、河北北芯半導(dǎo)體科技有限公司、深圳市標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院、深圳市深標(biāo)知識(shí)產(chǎn)權(quán)促進(jìn)中心、河北中電科航檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司、北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司、武漢格物芯科技有限公司、綿陽(yáng)邁可微檢測(cè)技術(shù)有限公司 歸口單位：全國(guó)半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 78) 提出部門(mén)：中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部