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GB/T 42977-2023 納米技術(shù) 納米光電顯示 量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜的光學(xué)可靠性測定 正式版
- 標(biāo)準(zhǔn)類別:[GB] 國家標(biāo)準(zhǔn)
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- 標(biāo)準(zhǔn)編號:GB/T 42977-2023 納米技術(shù) 納米光電顯示 量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜的光學(xué)可靠性測定 正式版
- 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):現(xiàn)行
- 更新時間:2023-12-28
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標(biāo)準(zhǔn)簡介
本文件給出了量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜(Q-LCF)的光學(xué)可靠性測定方法和可靠性判定指標(biāo)。 本文件適用于液晶顯示器件用量子點(diǎn)光轉(zhuǎn)換膜的光學(xué)可靠性測定,其他具有光轉(zhuǎn)換作用的膜材參照執(zhí)行。
標(biāo)準(zhǔn)截圖
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